GT8102涂层测厚仪以优良的品质和完善的服务，在广大客户中赢得了良好的声誉。需详细了解，或登陆网站，在产品搜索框里填上产品名称即可。魅宇人怀着与客户同发展的理念，竭诚欢迎广大客户莅临指导，共创辉煌！上海魅宇产品遍布全国各地，并出口马来西亚、土耳其、埃及、日本、越南、美国等国家。

GT8102涂层测厚仪功能：

■采用了磁性和涡流两种测厚方法，即可测量磁性金属基体上非磁性覆盖层的厚度又可测量非磁性金属基体上非导电覆盖层的厚度；

■可采用两种方法对仪器进行校准，并可用基本校准法对测头的系统误差进行修正；

■操作过程有蜂鸣声提示；

■电池电压指示：低电压提示

■自动关机

■测量方法：F磁感应 NF涡流

特点：

■采用了磁性和涡流两种测厚方法，即可测量磁性金属基体上非磁性覆盖层的厚度又可测量非磁性金属基体上非导电覆盖层的厚度；

■可采用单点校准和两点校准两种方法对仪器进行校准，并可用基本校准法对测头的系统误差进行修正，保证仪器在测量过程中仪器的准确性；

■能快速自动识别铁基体与非铁基体

■具有电源欠压指示功能

■操作过程有蜂鸣声提示；

■设有两种关机方式：手动关机方式和自动关机方式；

■有负数显示功能，保证仪器在零位点的校准准确性；

■微功耗设计，在待机装态不到10微安的电流。

测量原理：

本仪器采用了磁性和涡流两种测厚方法，可无损地测量磁性金属基体(如钢、铁、合金和硬磁性钢等)上非磁性覆盖层的厚度(如铝、铬、铜、珐琅、橡胶、油漆等)及非磁性金属基体(如铜、铝、锌、锡等)上非导电覆盖层的厚度(如:珐琅、橡胶、油漆、塑料等)。

a)磁性法(F型测头)

当测头与覆盖层接触时，测头和磁性金属基体构成一闭合磁路，由于非磁性覆盖层的存在，使磁路磁阻变化，通过测量其变化可导出覆盖层的厚度。

b)涡流法(N型测头)

利用高频交变电流在线圈中产生一个电磁场，当测头与覆盖层接触时，金属基体上产生电涡流，并对测头中的线圈产生反馈作用，通过测量反馈作用的大小可导出覆盖层的厚度。

产品型号：GT8102

双功能技术的测厚仪，完成磁感应和电涡流测量自动转换

应用双功能测量技术，能够自动识别磁性或非磁性底材，然后采用相应的测试方法，适用于各种测量环境。可测量非磁性底材上的非导电性涂层和磁性底材上的非磁性涂层的厚度。

是具有广泛使用范围的磁性和非磁性及两用仪器。其技术参数完全符合国家标准。该测厚仪是磁性、涡流一体的便携式覆层测厚仪，它能快速、无损伤、精密地进行涂、镀层厚度的测量。既可用于实验室，也可用于工程现场。本仪器能广泛地应用在制造业、金属加工业、化工业、商检等检测领域。是材料保护专业的仪器。

Fe质探针可检测磁性金属如钢、铁上的所有非磁性涂层厚度，例如油漆层、粉末、塑料、橡胶、合成材料、磷化层、锌、铅、铝、锡、镉、珐琅、氧化层，瓷、搪瓷防护层，包括镍、铬在内的各种有色金属电镀层，以及化工石油待业的各种防腐涂层等非磁性涂层。

NFe质探针可检测如铝、铜、黄铜或不锈钢等非磁性金属基体上所有绝缘涂层厚度，例如航天航空器表面、车辆、家电、铝合金门窗及其它铝制品表面的珐琅、橡胶、油漆，瓷、塑料涂层及阳极氧化膜等。

附件：

■标准片4片：50um、100um、250um、500um(选配：12um、25um)

■基体2块(GT8102块基体)

■电池2块

■清洁布1块

■说明书1份

■保修卡1张

影响因素的有关说明：

a)基体金属磁性质

磁性法测厚受基体金属磁性变化的影响（在实际应用中，低碳钢磁性的变化可以认为是轻微的），为了避免热处理和冷加工因素的影响，应使用与试件基体金属具有相同性质的标准片对仪器进行校准；亦可用待涂覆试件进行校准。

b)基体金属电性质

基体金属的电导率对测量有影响，而基体金属的电导率与其材料成分及热处理方法有关。使用与试件基体金属具有相同性质的标准片对仪器进行校准。

c)基体金属厚度

每一种仪器都有一个基体金属的临界厚度。大于这个厚度，测量就不受基体金属厚度的影响。本仪器的临界厚度值见附表1。

d)边缘效应

本仪器对试件表面形状的陡变敏感。因此在靠近试件边缘或内转角处进行测量是不可靠的。

e)曲率

试件的曲率对测量有影响。这种影响总是随着曲率半径的减少明显地增大。因此，在弯曲试件的表面上测量是不可靠的。

f)试件的变形

测头会使软覆盖层试件变形，因此在这些试件上测出可靠的数据。

g)表面粗糙度

基体金属和覆盖层的表面粗糙程度对测量有影响。粗糙程度增大，影响增大。粗糙表面会引起系统误差和偶然误差，每次测量时，在不同位置上应增加测量的次数，以克服这种偶然误差。如果基体金属粗糙，还必须在未涂覆的粗糙度相类似的基体金属试件上取几个位置校对仪器的零点；或用对基体金属没有腐蚀的溶液溶解除去覆盖层后，再校对仪器的零点。

h)磁场

周围各种电气设备所产生的强磁场，会严重地干扰磁性法测厚工作。

i)附着物质

本仪器对那些妨碍测头与覆盖层表面紧密接触的附着物质敏感，因此，必须清除附着物质，以保证仪器测头和被测试件表面直接接触。

j)测头压力

测头置于试件上所施加的压力大小会影响测量的读数，因此，要保持压力恒定。

k)测头的取向

测头的放置方式对测量有影响。在测量中，应当使测头与试样表面保持垂直。

技术参数：

■测量范围：0~1250um(标准量程)其它量程可定制

■分辨率：0.1/1

■*小曲面:F:凸5mm/凹5mm

■*小测量面积：10mm

■*薄基底：0.3mm

■使用环境：温度：0~40℃湿度：10~85%RH

■准确度：±(1.5～3%h)或±2um

■公制/英制：可转换

■机身尺寸：102mm×66mm×24mm

■电源：2节5号电池

■重量：99g(含电池)

符合标准：

■GB/T4956─1985磁性金属基体上非磁性覆盖层厚度测量 磁性方法

■GB/T4957─1985非磁性金属基体上非导电覆盖层厚度测量 涡流方法

■JB/T8393─1996磁性和涡流式覆层厚度测量仪

■JJG889─95《磁阻法测厚仪》

■JJG818─93《电涡流式测厚仪》